Αριθμός προϊόντος κατασκευαστή:
SN74ABTH182502APM
Product Overview
Κατασκευαστής:
Texas Instruments
DiGi Electronics Αριθμός Μέρους:
SN74ABTH182502APM-DG
Περιγραφή:
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
Λεπτομερής Περιγραφή:
Scan Test Universal Bus Transceiver IC 64-LQFP (10x10)
Αποθέμα:
88 Κομμάτια Νέα Πρωτότυπα Διαθέσιμα
1566715
Αίτηση Προσφοράς
Ποσότητα
Ελάχιστο 1
Ελάχιστο 1
(*) είναι υποχρεωτικό
Θα επικοινωνήσουμε μαζί σας εντός 24 ωρών
Θα επικοινωνήσουμε μαζί σας εντός 24 ωρών
ΥΠΟΒΑΛΛΩ
SN74ABTH182502APM Τεχνικές Προδιαγραφές
Κατηγορία
Λογική, Ειδική Λογική
Κατασκευαστής
Texas Instruments
Συσκευασία
Tray
Σειρά
74ABTH
Κατάσταση προϊόντος
Active
Λογικός τύπος
Scan Test Universal Bus Transceiver
Θερμοκρασία λειτουργίας
-40°C ~ 85°C
Τύπος τοποθέτησης
Surface Mount
Συσκευασία / Θήκη
64-LQFP
Πακέτο συσκευής προμηθευτή
64-LQFP (10x10)
Βασικός αριθμός προϊόντος
74ABTH182502
Φυλλάδιο & Έγγραφα
Φύλλα δεδομένων
Πρόσθετες Πληροφορίες
Standard Πακέτο
100
Άλλα ονόματα
TEXTISSN74ABTH182502APM
-74ABTH182502APMG4
3301-SN74ABTH182502APM
-296-4131-DG
296-4131-NDR
-296-4131
-74ABTH182502APMG4-NDR
-SN74ABTH182502APM-NDR
2156-SN74ABTH182502APM
296-4131
74ABTH182502APMG4
74ABTH182502APMG4-DG
Περιβαλλοντική & Εξαγωγική Κατάταξη
Κατάσταση RoHS
ROHS3 Compliant
Επίπεδο ευαισθησίας στην υγρασία (MSL)
3 (168 Hours)
Κατάσταση REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Πιστοποίηση DIGI
Σχετικά προϊόντα
SN74ABT8952DWR
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SN74ABT8646DWRG4
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SY100EL16VDKG-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 10-MSOP